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致茂Chroma 3240-Q無線射頻分類機

產(chǎn)品簡介

致茂Chroma 3240-Q無線射頻分類機
符合成本效益的RF整合方案
客制RF隔離室和整合Tester安裝
可調(diào)整測試間距至120mm
具有八個平行測試站點
支援的晶片尺寸從 3x3 mm 到45x45 mm
精確的定位能力
支援JEDEC和EIA料盤

產(chǎn)品型號:3240-Q
更新時間:2023-12-26
廠商性質:代理商
訪問量:1199
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品牌Chroma/致茂產(chǎn)地類別國產(chǎn)
應用領域電子

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致茂Chroma 3240-Q無線射頻分類機

主要特色:

  • 符合成本效益的RF整合方案
  • 客制RF隔離室和整合Tester安裝
  • 可調(diào)整測試間距至120mm
  • 具有八個平行測試站點
  • 支援的晶片尺寸從 3x3 mm 到45x45 mm
  • 精確的定位能力
  • 支援JEDEC和EIA料盤

3240-Q是一個特且創(chuàng)新、整合了射頻和無線隔離室之自動分類機。此機臺配置多達八個測試 站點和獨立的隔離作平行測試。 3240-Q具有順暢的自動化測試,、精確的Pick & Place技術、彈 性的多測點架構、高產(chǎn)能和低Jam Rate等優(yōu)勢,適用于射頻和無線晶片測試。

3240-Q也可依據(jù)測試需求支援各種不同類型封裝的晶片。具有自動送料/分料盤設計, 3240-Q適 用于JEDEC和EIA料盤規(guī)范。另有選配的加強溫控的測試能力, 可提供高達150℃之高溫測試環(huán)境。

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3240-Q無線射頻分類機

 致茂Chroma 3240-Q無線射頻分類機

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