Chroma 58635-L/N/F光電組件晶圓點測系統

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Chroma 58635-L/N/F光電組件晶圓點測系統

主要特色：

• 依據ISO/IEC標準
• 大可測試6吋晶圓
• 寬廣的測試范圍與高精準溫度控制
• 同時支持Pulse與CW模式操作
• LIV量測 : Model 58635-L 
  近場量測 : Model 58635-N 
  遠場量測 : Model 58635-F
• 支持multisite測試

隨著光電組件的技術越趨成熟，應用也越來越廣泛。其中，雷射二極管 (laser diode) 除通訊應用外，也朝消費性應用擴展。因應此全新市場，致茂電子藉由多年累積之光電量測技術，開發(fā)專為消費性應用之光電組件晶圓點測系統Model 58635系列機種。

58635系列大可測試6吋晶圓，并搭配致茂電子之精密測試儀器設備，如電流源與溫度控制器，能滿足雷射二極管測試之嚴苛要求，雷射二極管相關光電特性參數隨溫度變化而有所變異，58635系列機種精準之溫度控制，能提供蕞穩(wěn)定、準確之量測數值。

Model 58635系列因應不同測試需求，共包含3機種：58635-L，58635-N，以及 58635-F。

LIV量測系統

致茂電流源提供準確穩(wěn)定之電流源以及電壓量測，搭配積分球與光譜儀，提供準確之光功率與波長量測。藉由58635-L完整之軟件功能，所有LIV與波長之相關參數均能在此量測。

近場量測系統

58635-N參照ISO關于雷射近場量測之相關規(guī)范，對于雷射二極管之光束傳播比例 (beam propagation ratio)或光束質量 (beam quality) 之相關參數，提供精準快速之量測。

遠場量測系統

58635-F針對雷射二極管之遠場光學特性進行測量，諸如雷射之發(fā)光角度。另參照IEC人眼安全相關規(guī)范，58635-F能于遠場找尋光束蕞強之處，從而判斷是否符合人眼安全相關規(guī)范。

 應用范圍

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Chroma 58635-L/N/F光電組件晶圓點測系統